Méthodes et techniques nouvelles d'observation en métallurgie physique
Uloženo v:
| Další autoři: | |
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| Médium: | Livre papier |
| Jazyk: | Français |
| Vydáno: |
Paris :
Société française de microscopie électronique
1972.
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| Témata: | |
| Poznámka: |
Ce livre fait suite à l'école d'été qui s'est tenue à Perros-Guirec du 5 au 17 septembre 1969 |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
Obsah:
- Chapitre 1, Préparation des échantillons
- Chapitre 2, Les accessoires. Caractéristiques. Emploi
- Chapitre 3, Diverses approximations en théorie du comportement des électrons de 100 kV dans la matière
- Chapitre 4, Diffraction des électrons par les cristaux et image. Théorie cinématique
- Chapitre 5, Théorie dynamique pour les cristaux parfaits (traitement d'optique ondulatoire)
- Chapitre 6, Théorie dynamique de la diffraction des électrons dans un cristal parfait. Traitement à partir de la mécanique quantique
- Chapitre 7, Traitement phénoménologique de l'absorption
- Chapitre 8, Géométrie des défauts de structure
- bChapitre 9, Contraste des défauts par la théorie cinématique
- Chapitre 10, Traitement dynamique des défauts
- Chapitre 11, Défauts plans
- Chapitre 12, Structure fine des taches de diffraction
- Chapitre 13, Alliages ordonnés
- Chapitre 14, Constraste des images de dislocations en microscopie électronique
- Chapitre 15, Contraste des petits défauts
- Chapitre 16, Application de la microscopie électronique à l'étude des précipités
- Chapitre 17, Contraste des inclusions
- Chapitre 18, Microscopie électronique dispersive à l'aide de prismes magnétiques
- Chapitre 19, Éclairement de l'objet et techniques de contraste en microscopie électronique. Strioscopie. Contraste de phase
- Chapitre 20, Microscopie à haute tension
- Chapitre 21, L'optique géométrique et ondulatoire en microscopie de Lorentz
- Chapitre 22, Quelques applications de la microanalyse par émission ionique secondaire
- Chapitre 23, Utilisation de la microscopie à émission d'ions pour l'étude de très petits défauts cristallins
- Chapitre 24, La méthode de Lang
- Chapitre 25, Microsonde et microscope à balayage