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| LEADER |
02876nam a22002417a 4500 |
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208833 |
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960216s1972 xxe ||| |||| 00| 0 fre d |
| 009 |
PPN00723175X |
| 020 |
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|c (Rel.)
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| 041 |
0 |
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|a fre
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| 245 |
0 |
0 |
|a Méthodes et techniques nouvelles d'observation en métallurgie physique
|c édité par Bernard Jouffrey.
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| 260 |
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|a Paris :
|b Société française de microscopie électronique,
|c 1972.
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| 300 |
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|a 1 volume (XVI-546 pages) :
|b illustrations, couverture illustrée ;
|c 27 cm.
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| 500 |
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|a Ce livre fait suite à l'école d'été qui s'est tenue à Perros-Guirec du 5 au 17 septembre 1969
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| 504 |
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|a Bibliographie en fin de chaque contribution. Index
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| 505 |
0 |
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|a Chapitre 1, Préparation des échantillons -- Chapitre 2, Les accessoires. Caractéristiques. Emploi -- Chapitre 3, Diverses approximations en théorie du comportement des électrons de 100 kV dans la matière -- Chapitre 4, Diffraction des électrons par les cristaux et image. Théorie cinématique -- Chapitre 5, Théorie dynamique pour les cristaux parfaits (traitement d'optique ondulatoire) -- Chapitre 6, Théorie dynamique de la diffraction des électrons dans un cristal parfait. Traitement à partir de la mécanique quantique -- Chapitre 7, Traitement phénoménologique de l'absorption -- Chapitre 8, Géométrie des défauts de structure -- bChapitre 9, Contraste des défauts par la théorie cinématique -- Chapitre 10, Traitement dynamique des défauts -- Chapitre 11, Défauts plans -- Chapitre 12, Structure fine des taches de diffraction -- Chapitre 13, Alliages ordonnés -- Chapitre 14, Constraste des images de dislocations en microscopie électronique -- Chapitre 15, Contraste des petits défauts -- Chapitre 16, Application de la microscopie électronique à l'étude des précipités -- Chapitre 17, Contraste des inclusions -- Chapitre 18, Microscopie électronique dispersive à l'aide de prismes magnétiques -- Chapitre 19, Éclairement de l'objet et techniques de contraste en microscopie électronique. Strioscopie. Contraste de phase -- Chapitre 20, Microscopie à haute tension -- Chapitre 21, L'optique géométrique et ondulatoire en microscopie de Lorentz -- Chapitre 22, Quelques applications de la microanalyse par émission ionique secondaire -- Chapitre 23, Utilisation de la microscopie à émission d'ions pour l'étude de très petits défauts cristallins -- Chapitre 24, La méthode de Lang -- Chapitre 25, Microsonde et microscope à balayage
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|a Microscopie électronique
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|a Métallurgie physique
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|a Métallographie électronique
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| 650 |
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|a Actes de congrès
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| 700 |
1 |
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|a Jouffrey, Bernard,
|d 19..-....,
|c directeur de recherche au CNRS.
|4 pbd
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| 710 |
2 |
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|a Société française de microscopie électronique.
|4 orm
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| 997 |
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|0 208833
|1 Livre papier
|a Ressource papier
|c 0/Orléans/
|c 1/Orléans/OSUC/
|z Orléans, OSUC, 669 JOU
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