Mesure et analyse de l'émittance spectrale d'oxydes diélectriques à haute température : une approche des phénomènes préfusionnels
L'émittance spectrale, image directe de l'absorptance optique, donne accès aux origines microscopiques caractéristiques des échanges de chaleur par transfert radiatif. Son évolution en température doit permettre de suivre les changements survenant à la fusion d'un matériau et de carac...
Uloženo v:
| Hlavní autor: | Brun, Jean-François, 1977-...., physicien |
|---|---|
| Další autoři: | Echegut, Patrick (Vedoucí práce) |
| Médium: | Thèse et Mémoire papier |
| Jazyk: | Français |
| Vydáno: |
[S.l.] :
[s.n.]
2003.
|
| Témata: | |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Variante du titre: | Measurement and analysis of the spectral emittance of dielectric oxides at high temperature :, an approach of premelting effects |
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