Défauts ponctuels dans Alb2s0b3s et Yb2s0b3s au moyen de l'émission électronique : appareillage (1700 K - 2500 K), influence des gaz et des impuretés

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Rifflet, Jean-Claude
Formato: Thèse et Mémoire papier
Lenguaje:Français
Publicado: [S.l] : [Éditeur inconnu] 1981.
Materias:
Nota: Publication autorisée par le jury
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