EXAFS : [Extended X-ray Absorption Fine Structure] : Basic principles and data analysis

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Teo, Boon Keng
Формат: Livre papier
Язык:Anglais
Опубликовано: Berlin : Springer-Verlag c1986.
Серии:Inorganic chemistry concepts 9
Предметы:
Autres localisations: Voir dans le Sudoc
Описание
Объем:1 volume (XVIII-349 pages) : illustration ; 25 cm.
Библиография:Bibliographie pages 223-284. Index
ISBN:0387158332 (Springer-Verlag New York) (relié)
3540158332 (Springer-Verlag Berlin) (relié)