Teo, B. K. (1986). EXAFS: [Extended X-ray Absorption Fine Structure] : Basic principles and data analysis. Springer-Verlag.
Style de citation Chicago (17e éd.)Teo, Boon Keng. EXAFS: [Extended X-ray Absorption Fine Structure] : Basic Principles and Data Analysis. Berlin: Springer-Verlag, 1986.
Style de citation MLA (8e éd.)Teo, Boon Keng. EXAFS: [Extended X-ray Absorption Fine Structure] : Basic Principles and Data Analysis. Springer-Verlag, 1986.
Attention : ces citations peuvent ne pas être correctes à 100%.