Spectrométrie de masse d'ions secondaires : SIMS et ToF-SIMS Procédures d'analyse et performances
Uloženo v:
| Médium: | Article de revue numérique |
|---|---|
| Jazyk: | Indéterminée |
| Vydáno: |
Techniques de l'ingénieur
2015.
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| On-line přístup: | Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Poznámka: |
Techniques de l'ingénieur |
| Variante du titre: | Spectrométrie de masse d'ions secondaires : SIMS et ToF-SIMS Procédures d'analyse et performances |
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Minkala, Jean-Louis
[s.n.], 1988 - Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II : Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979 (Livre numérique)
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Šmejkal, František
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