Fundamental principles of engineering nanometrology
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| التنسيق: | Livre numérique |
| اللغة: | Anglais |
| منشور في: |
San Diego :
Elsevier Science
2014.
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| الوصول للمادة أونلاين: | Accès Université d'Orléans et IFPM Accès INSA CVL |
| ملاحظة: |
Titre provenant de la page de titre du document numérique La pagination de l'édition imprimée correspondante est de 383 p. Cyberlibris (ScholarVox) corpus Sciences de l'ingénieur Cyberlibris (ScholarVox) corpus Sciences de l'ingénieur |
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| Edition sous un autre format: | • Fundamental Principles of Engineering Nanometrology, Richard Leach, 2nd Edition, San Diego, Elsevier Science, 2014, 1 vol. (383 p.), 978-1-4557-7753-2 |