Fundamental principles of engineering nanometrology
Wedi'i Gadw mewn:
| Prif Awdur: | |
|---|---|
| Fformat: | Livre numérique |
| Iaith: | Anglais |
| Cyhoeddwyd: |
San Diego :
Elsevier Science
2014.
|
| Mynediad Ar-lein: | Accès Université d'Orléans et IFPM Accès INSA CVL |
| Nodyn: |
Titre provenant de la page de titre du document numérique La pagination de l'édition imprimée correspondante est de 383 p. Cyberlibris (ScholarVox) corpus Sciences de l'ingénieur Cyberlibris (ScholarVox) corpus Sciences de l'ingénieur |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Fundamental Principles of Engineering Nanometrology, Richard Leach, 2nd Edition, San Diego, Elsevier Science, 2014, 1 vol. (383 p.), 978-1-4557-7753-2 |
| Disgrifiad o'r Eitem: | Titre provenant de la page de titre du document numérique La pagination de l'édition imprimée correspondante est de 383 p. Cyberlibris (ScholarVox) corpus Sciences de l'ingénieur Cyberlibris (ScholarVox) corpus Sciences de l'ingénieur |
|---|---|
| Fformat: | Configuration requise : navigateur internet |
| ISBN: | 9781455777501 |
| Mynediad: | L'accès complet à la ressource est réservé aux usagers des établissements qui en ont fait l'acquisition |