Principles of Semiconductor Network Testing
Guardat en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Format: | Livre numérique |
| Idioma: | Anglais |
| Publicat: |
Burlington, MA, USA :
Elsevier Science & Technology Books
[20..].
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| Accés en línia: | Accès Université d'Orléans et IFPM Accès INSA CVL |
| Nota: |
Titre provenant de la page de titre du document numérique Numérisation de l'édition de Burlington, MA, USA : Elsevier Science & Technology Books, 1995 La pagination de l'édition imprimée correspondante est de 227 p. Cyberlibris (ScholarVox) corpus Sciences de l'ingénieur Cyberlibris (ScholarVox) corpus Sciences de l'ingénieur Type of computer file: Fichier html |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Principles of Semiconductor Network Testing, Texte imprimé, Amir Afshar, Burlington, MA, USA, Elsevier Science & Technology Books, 1995, 1 vol. (227 p.), 978-0-7506-9472-8 |