Principles of Semiconductor Network Testing

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Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Afshar, Amir
Formato: Livre numérique
Idioma:Anglais
Publicado: Burlington, MA, USA : Elsevier Science & Technology Books [20..].
Acceso en liña:Accès Université d'Orléans et IFPM
Accès INSA CVL
Nota: Titre provenant de la page de titre du document numérique
Numérisation de l'édition de Burlington, MA, USA : Elsevier Science & Technology Books, 1995
La pagination de l'édition imprimée correspondante est de 227 p.
Cyberlibris (ScholarVox) corpus Sciences de l'ingénieur
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Type of computer file: Fichier html
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Edition sous un autre format:• Principles of Semiconductor Network Testing, Texte imprimé, Amir Afshar, Burlington, MA, USA, Elsevier Science & Technology Books, 1995, 1 vol. (227 p.), 978-0-7506-9472-8
Descripción
descrición da copia:Titre provenant de la page de titre du document numérique
Numérisation de l'édition de Burlington, MA, USA : Elsevier Science & Technology Books, 1995
La pagination de l'édition imprimée correspondante est de 227 p.
Cyberlibris (ScholarVox) corpus Sciences de l'ingénieur
Cyberlibris (ScholarVox) corpus Sciences de l'ingénieur
Type of computer file: Fichier html
Formato:Configuration requise : navigateur internet
ISBN:9780080539560
Acceso:L'accès complet à la ressource est réservé aux usagers des établissements qui en ont fait l'acquisition