CompTIA CySA+ Practice Tests : Exam CS0-002

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Bibliografiske detaljer
Auteurs principaux: Chapple, Mike, 19..-, Seidl, David, 19..-, informaticien (Auteur)
Format: Livre numérique
Sprog:Anglais
Udgivet: New York, NY : John Wiley & Sons 2020.
Paris : Cyberlibris
Online adgang:Accès Université d'Orléans et IFPM
Kommentar: Couverture. https://static2.cyberlibris.com/books_upload/136pix/9781119683926.jpg
Cyberlibris (ScholarVox) corpus Informatique
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Edition sous un autre format:• CompTIA CySA+ Practice Tests, Exam CS0-002, Mike Chapple, David Seidl, 2nd Edition, New York, NY, John Wiley & Sons, 2020, 1 vol. (529 p.), 978-11-1968-379-7
LEADER 01231nam a22002177a 4500
001 1285735
008 231020s2020 xxg ||| |||| 00| 0 eng d
009 PPN272713295
020 |a 9781119683926 
041 0 |a eng 
100 1 |a Chapple, Mike,  |d 19..- 
245 1 0 |a CompTIA CySA+ Practice Tests :  |b Exam CS0-002   |c Mike Chapple, David Seidl. 
260 |a New York, NY :  |b John Wiley & Sons. 
260 |a Paris :  |b Cyberlibris,  |c 2020. 
500 |a Couverture. https://static2.cyberlibris.com/books_upload/136pix/9781119683926.jpg 
500 |a Cyberlibris (ScholarVox) corpus Informatique 
506 |a L'accès en ligne est réservé aux établissements ou bibliothèques ayant souscrit l'abonnement. Cyberlibris 
700 1 |a Seidl, David,  |d 19..-,  |c informaticien.  |4 aut 
776 0 |t CompTIA CySA+ Practice Tests  |o Exam CS0-002  |f Mike Chapple, David Seidl  |e 2nd Edition  |c New York, NY  |n John Wiley & Sons  |d 2020  |p 1 vol. (529 p.)  |z 978-11-1968-379-7 
856 4 |5 452349901:84563089X  |u https://ezproxy.univ-orleans.fr/login?url=https://univ.scholarvox.com/book/88944476  |z Accès Université d'Orléans et IFPM 
997 |0 1285735  |1 Livre numérique  |a Ressource numérique  |b INSA  |b ENSA  |c 0/Bibliothèque numérique/  |c 1/Bibliothèque numérique/ScholarVox (ebooks)/