Analyse structurale et chimique des matériaux : diffraction des rayons X, électrons et neutrons, spectrométrie des rayons X, électrons et ions, microscopie électronique
Uloženo v:
| Hlavní autor: | Eberhart, Jean-Pierre |
|---|---|
| Médium: | Livre papier |
| Jazyk: | Français |
| Vydáno: |
Paris :
Dunod
C 1989.
|
| Témata: | |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
Podobné jednotky
-
Analyse structurale et chimique des matériaux
(Livre papier)
Eberhart, Jean-Pierre
Dunod, 1997 -
Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins
(Livre papier)
Guinebretière, René, 1944-
Hermès science publ. : Lavoisier, 2002 -
Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins : instrumentation et étude de la microstructure
(Livre papier)
Guinebretière, René, 1963-
Hermes science publ. : Lavoisier, 2006 -
Caractérisation expérimentale des matériaux. Analyse par rayons X, électrons et neutrons
(Livre papier)
Martin, Jean-Luc, 1938-...., professeur en physique, a další
Presses polytechniques et universitaires romandes, 1998 -
Microanalyse et microscopie électronique à balayage
(Livre papier)
Éditions de Physique, 1979

