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| LEADER |
01148nam a22003017a 4500 |
| 001 |
112371 |
| 008 |
891106t19891989xxe ||| |||| 00| 0 fre d |
| 009 |
PPN001505688 |
| 020 |
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|a 2040187979 (br.) :
|c 400 F
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| 024 |
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|a 9782040187972
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| 041 |
0 |
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|a fre
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| 080 |
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|a 53
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| 082 |
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|a 543.5
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| 100 |
1 |
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|a Eberhart, Jean-Pierre.
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| 245 |
1 |
0 |
|a Analyse structurale et chimique des matériaux :
|b diffraction des rayons X, électrons et neutrons, spectrométrie des rayons X, électrons et ions, microscopie électronique
|c Jean-Pierre Eberhart,...
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| 260 |
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|a Paris :
|b Dunod.
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| 260 |
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|c C 1989.
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| 300 |
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|a 1 vol. (XIII-614 p.) :
|b ill., couv. ill. en coul. ;
|c 26 cm.
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| 504 |
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|a Bibliogr. p. 597-603. Notes bibliogr. en fin de chapitres. Index
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| 650 |
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|a Radiocristallographie
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| 650 |
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|a Matériaux
|x Analyse
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| 650 |
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|a Rayons x
|x diffraction
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| 650 |
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|a Électrons
|x Diffusion
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| 650 |
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|a Matériaux
|x Structure
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| 650 |
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|a Surfaces (technologie)
|x Analyse
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| 650 |
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|a Spectroscopie
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| 650 |
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|a Microscopie électronique
|x Technique
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| 997 |
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|0 112371
|1 Livre papier
|a Ressource papier
|c 0/Bourges/
|c 1/Bourges/BU/
|z Bourges, BU, BM1194
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