Analyse structurale et chimique des matériaux : diffraction des rayons X, électrons et neutrons, spectrométrie des rayons X, électrons et ions, microscopie électronique

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Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Eberhart, Jean-Pierre
Formato: Livre papier
Idioma:Français
Publicado: Paris : Dunod C 1989.
Sujets:
Autres localisations: Voir dans le Sudoc
Descripción
Descrición Física:1 vol. (XIII-614 p.) : ill., couv. ill. en coul. ; 26 cm.
Bibliografía:Bibliogr. p. 597-603. Notes bibliogr. en fin de chapitres. Index
ISBN:2040187979 (br.) :